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  Micro-Raman characterization of homo-epitaxial n doped GaN layers for vertical device applications 相关领域
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期刊：AIP Advances 作者：Atse Julien Eric N’dohi; Camille Sonneville; Luong Viêt Phung; Thi Huong Ngo; P. de Mierry; et al 出版日期：2022-02-01 |
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