| 标题 |
Universal conductance fluctuations in a Bi1.5Sb0.5Te1.8Se1.2 topological insulator nano-scaled Hall bar structure Bi1.5Sb 0.5 Te1.8 Se1.2拓扑绝缘体纳米级霍尔棒结构中的普遍电导涨落
相关领域
拓扑绝缘体
凝聚态物理
电导
分子束外延
巴(单位)
物理
振幅
绝缘体(电)
纳米尺度
外延
材料科学
纳米技术
量子力学
光电子学
图层(电子)
气象学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Erik Zimmermann; Jonas Kölzer; Michael Schleenvoigt; Daniel Rosenbach; Gregor Mußler; et al 出版日期:2023-01-18 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|