| 标题 |
 Electrical-stress driven oxidation in 940 nm oxide-confined VCSEL 940 nm氧化物限制VCSEL中的电应力驱动氧化
相关领域
氧化物
热氧化
材料科学
垂直腔面发射激光器
压力（语言学）
腐蚀
透射电子显微镜
GSM演进的增强数据速率
光电子学
复合材料
激光器
光学
纳米技术
冶金
电信
物理
哲学
语言学
计算机科学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Michael Pusterhofer; Robert Fabbro; Raffaele Coppeta; G. Fasching; P. Hadley 出版日期：2021-11-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Criminology34
小小
tuanheqi
且慢
Zhusfeng
风清扬
无极微光
jyy
6666
yyds
昏睡的蟠桃
精明浩然
归尘
eric888
迷途小书童
Hayat
AN
nn
Mic
优美紫槐
dawnfrf
孤独的不凡
MchemG
WebCasa
皖公网安备34019202002308
