| 标题 |
[高分]
 Prediction of DC-AC Converter Efficiency Degradation due to Device Aging Using a Compact MOSFET-Aging Model 用紧凑的MOSFET老化模型预测器件老化引起的DC-AC转换器效率退化
相关领域
MOSFET
降级（电信）
材料科学
压力（语言学）
电子工程
还原（数学）
断层（地质）
电压
电气工程
工程类
晶体管
数学
语言学
哲学
几何学
地震学
地质学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEICE Transactions on Electronics 作者：Kenshiro Sato; D. Navarro; Shinya Sekizaki; Yoshifumi Zoka; Naoto Yorino; et al 出版日期：2019-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
然宝
随风沙ZYX
学术文献互助
GingerF
Kao
Nole
My_magnum_opus
DW
Criminology34
cocohan
null
无极微光
殷勤的紫槐
anugraphics
帅气碧萱
heekkll
HanHan
XX
初景
皖公网安备34019202002308
