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[高分]
 Prediction of DC-AC Converter Efficiency Degradation due to Device Aging Using a Compact MOSFET-Aging Model 用紧凑的MOSFET老化模型预测器件老化引起的DC-AC转换器效率退化
相关领域
MOSFET
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期刊：IEICE Transactions on Electronics 作者：Kenshiro Sato; D. Navarro; Shinya Sekizaki; Yoshifumi Zoka; Naoto Yorino; et al 出版日期：2019-09-01 |
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