| 标题 | 
                                                                                                                                                                     Imaging Mueller matrix ellipsometry for the characterisation of nanoscale structures                                                    相关领域 
                                                            
                                                                                                                                    
                                                                        
                                                                            纳米尺度                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            椭圆偏振法                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            穆勒微积分                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            材料科学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            基质(化学分析)                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            光学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            纳米技术                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            复合材料                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            旋光法                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            物理                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            薄膜                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            散射                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                 
                                                         | 
                                            
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 | 
                                                        期刊: 作者:Jens Reinelt; Bernd Bodermann 出版日期:2025-08-08  | 
                                                
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 | 
| 
                                                         温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看  
                                                        科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。 
                                                     |