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 Imaging Mueller matrix ellipsometry for the characterisation of nanoscale structures 相关领域
纳米尺度
椭圆偏振法
穆勒微积分
材料科学
基质（化学分析）
光学
纳米技术
复合材料
旋光法
物理
薄膜
散射
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期刊： 作者：Jens Reinelt; Bernd Bodermann 出版日期：2025-08-08 |
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(2025-6-4)
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