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 Quantitative Determination of Native Point‐Defect Concentrations at the ppm Level in Un‐Doped BaSnO3 Thin Films 未掺杂BaSnO3薄膜中ppm级原生点缺陷浓度的定量测定
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期刊：Advanced Functional Materials 作者：Kendra S. Belthle; Ute N. Gries; Michael Mueller; Dennis Kemp; Abhinav Prakash; et al 出版日期：2022-02-15 |
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