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 Structural peculiarities of ε-Fe2O3/GaN epitaxial layers unveiled by high-resolution transmission electron microscopy and neutron reflectometry 高分辨透射电子显微镜和中子反射仪揭示ε-Fe2O3/GaN外延层的结构特性
相关领域
材料科学
高分辨率透射电子显微镜
中子反射计
互易晶格
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光电子学
异质结
外延
半导体
光学
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散射
物理
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期刊：Materials Today Communications 作者：С.М. Сутурин; Polina A. Dvortsova; L. A. Snigirev; Victor Ukleev; Τakayasu Hanashima; et al 出版日期：2022-09-12 |
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