| 标题 |
 Patent Quality: Towards a Systematic Framework for Analysis and Measurement 专利质量：建立系统的分析和测量框架
相关领域
质量（理念）
一致性（知识库）
度量（数据仓库）
工作（物理）
考试（生物学）
分布（数学）
营销
业务
计算机科学
数据挖掘
数学
工程类
古生物学
数学分析
哲学
认识论
人工智能
生物
机械工程
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Research Policy 作者：Kyle Higham; Gaétan de Rassenfosse; Adam B. Jaffe 出版日期：2021-02-18 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
cdercder
rico
yjh123
22336
ale
叶子666
嘉心糖
arniu2008
寻雯静
sagitar
天晴
christina
Copyright
jiang
aajhajkahna
vivi
大力的冬萱
Nole
dawd
皖公网安备34019202002308
