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标题
Crystalline Si Surface Passivation with Nafion for Bulk Defects Detection with Electron Paramagnetic Resonance
Nafion钝化晶体硅表面电子顺磁共振体缺陷检测
相关领域
材料科学 钝化 电子顺磁共振 顺磁性 电子 曲面(拓扑) 核磁共振 凝聚态物理 纳米技术 图层(电子) 物理 几何学 数学 量子力学
网址
DOI
10.1021/acsami.4c03872 doi
其它 期刊:ACS applied materials & interfaces
作者:Kejun Chen; Steve Johnston; P. C. Taylor; David W. Mulder; Harvey Guthrey; et al
出版日期:2024-04-22
求助人
111 在 2024-05-18 10:36:44 发布自山东,悬赏 10 积分
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