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 Extended-depth-of-field Fourier light-field microscopy based on Bessel beams 相关领域
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Zonglin Guo; Siyuan Wang; Ning Wang; Ao Wang; Chunfeng Hou; et al 出版日期：2026-08-31 |
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(2025-6-4)
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