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Bias and Temperature Effects on DCR and RTS Fluctuations in 1- and 2-Layer CMOS SPADs
偏压和温度对1层和2层CMOS SPADs中DCR和RTS波动的影响
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期刊: 作者:L. Ratti; P. Brogi; G. Collazuol; Z Bell; P. S. Marrocchesi; et al 出版日期:2022-11-05 |
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