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 Simultaneous determination of thickness and refractive index using Cauchy or Sellmeier formulas by the example of surface plasmon resonance study on ultrathin polysulfone film 相关领域
折射率
表面等离子共振
材料科学
聚砜
光学
波长
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折射
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光电子学
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粒子物理学
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期刊：International Journal of Polymer Analysis and Characterization 作者：Roman Pogreb; Roman Grynyov; Oz Ben-Yosef; Gene Whyman 出版日期：2021-08-12 |
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