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 Investigation of the bipolar degradation of SiC MOSFET body diodes and the influence of current density 相关领域
材料科学
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期刊： 作者：Shanmuganathan Palanisamy; Thomas Basler; Josef Lutz; Cesare Künzel; Larissa Wehrhahn-Kilian; et al 出版日期：2021-03-01 |
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