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Using Raman spectroscopy and x-ray diffraction for phase determination in ferroelectric mixed Hf1−xZrxO2-based layers |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Uwe Schroeder; Ridham Sachdeva; Patrick D. Lomenzo; Bohan Xu; Monica Materano; et al 出版日期:2022 |
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(2025-6-4)