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![]() 14 nm无结SOI FinFET实现从器件到电路级的温度和线性稳定性突破:提升K波段LNA性能
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Amir Khodabakhsh; Mohammad Fallahnejad; Mahdi Vadizadeh 出版日期:2023-11-21 |
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