| 标题 |
High Crystallinity Ge Growth on Si (111) and Si (110) by Using Reduced Pressure Chemical Vapor Deposition 用减压化学气相沉积法在Si(111)和Si(110)上生长高结晶度锗
相关领域
材料科学
结晶度
退火(玻璃)
外延
化学气相沉积
位错
结晶学
锗
表面粗糙度
晶体生长
图层(电子)
分析化学(期刊)
光电子学
硅
复合材料
化学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:Y. Yamamoto; Wei-Chen Wen; Markus Andreas Schubert; Cedric Corley‐Wiciak; Bernd Tillack 出版日期:2023-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)