| 标题 |
Ultraviolet Cross-Link Gap Fill Materials and Planarization Applications for Patterning Metal Trenches in 32–45 nm Via First Dual Damascene Process 相关领域
化学机械平面化
光刻胶
材料科学
铜互连
沟槽
薄脆饼
光电子学
抵抗
平版印刷术
光刻
固化(化学)
浅沟隔离
纳米技术
复合材料
抛光
电介质
图层(电子)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Satoshi Takei; Tetsuya Shinjo; Yusuke Horiguchi 出版日期:2007-07-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|