| 标题 |
Stress evolution and degradation in zero-busbar silicon photovoltaic modules under thermal cycling: A finite element study 相关领域
材料科学
焊接
有限元法
压力(语言学)
光伏系统
复合材料
热的
可靠性(半导体)
温度循环
耐久性
硅
晶体硅
加工硬化
互连
蠕动
接头(建筑物)
结构工程
应力集中
工作(物理)
刚度
热膨胀
热冲击
硬化(计算)
磁滞
球栅阵列
降级(电信)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Solar Energy 作者:Huiwen Liu; Selvakumar V. Nair; Hao Gu; Bo Yang; Jun Wu; et al 出版日期:2025-12-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)