| 标题 |
Gate stack technology for advanced high-mobility Ge-channel metal-oxide-semiconductor devices – Fundamental aspects of germanium oxides and application of plasma nitridation technique for fabrication of scalable oxynitride dielectrics 相关领域
材料科学
锗
光电子学
电子迁移率
栅极电介质
电介质
MOSFET
制作
半导体
工程物理
纳米技术
晶体管
电子工程
硅
电气工程
工程类
病理
电压
医学
替代医学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Current Applied Physics 作者:Heiji Watanabe; Katsuhiro Kutsuki; Kasuya Atsushi; Iori Hideshima; Gaku Okamoto; et al 出版日期:2012-04-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|