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 Large‐Area Bi2Te3 Flakes on Si‐Based Substrates for Sensitive IR Imaging Photodetection at MWIR Optical Communication Wavelengths 用于MWIR光通信波长灵敏红外成像光电检测的硅基衬底上大面积Bi2Te3薄片
相关领域
光探测
材料科学
响应度
红外线的
光电子学
波长
光电探测器
光通信
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光学
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光子集成电路
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期刊：Advanced Functional Materials 作者：Yinze Zhang; Dongbo Wang; Wen He; Chenchen Zhao; Duoduo Ling; et al 出版日期：2025-10-09 |
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(2025-6-4)
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