| 标题 |
BRUCE: a metrological system for characterizing the beam-intensity rotational uniformity of side-scanning optical miniature probes |
| 网址 | |
| DOI |
10.1364/ao.573028
doi
|
| 其它 |
期刊:Applied Optics 作者:Jin Young Youm; Joon-Mo Yang 出版日期:2025-08-26 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)