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Roughness-generation mechanism of Ru etching using Cl2/O2-based plasma for advanced interconnect |
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B 作者:Miyako Matsui; Yohei Ishii; Lucas Kovatch; Kathryn Maier; Masaya Imai; et al 出版日期:2024 |
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(2025-6-4)