Investigations on junction temperature estimation based on junction voltage measurements

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标题	Investigations on junction temperature estimation based on junction voltage measurements 相关领域结温可靠性（半导体）材料科学电压降电压热的校准半导体下降（电信）温度测量半导体器件功率（物理）功率半导体器件核工程机械光电子学电子工程可靠性工程电气工程热力学复合材料工程类物理图层（电子）量子力学
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2010.07.102
DOI	10.1016/j.microrel.2010.07.102 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Z. Khatir; Laurent Dupont; Ali Ibrahim 出版日期：2010-08-14
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