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Investigations on junction temperature estimation based on junction voltage measurements
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网址
DOI
10.1016/j.microrel.2010.07.102 doi
其它 期刊:Microelectronics Reliability
作者:Z. Khatir; Laurent Dupont; Ali Ibrahim
出版日期:2010-08-14
求助人
FlipFlops 在 2025-10-25 13:16:33 发布自北京,悬赏 10 积分
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