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 Negative Bias Temperature Instability Dominated Degradation of Metal-Induced Laterally Crystallized p-Type Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors 负偏压温度不稳定性主导金属诱导侧晶化p型多晶硅薄膜晶体管退化研究
相关领域
降级（电信）
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硅
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物理
薄膜晶体管
立体化学
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化学
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Chunfeng Hu; Mingxiang Wang; Bo Zhang; Man Wong 出版日期：2009-02-26 |
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