| 标题 |
 Development of NMIJ CRM 5207-a tungsten dot-array for the image sharpness evaluation in scanning electron microscopy – structure evaluation and determination of dot-pitch 相关领域
放大倍数
扫描电子显微镜
材料科学
校准
钨
基质（水族馆）
光学
硅
图像（数学）
光电子学
人工智能
计算机科学
物理
复合材料
冶金
量子力学
海洋学
地质学
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| 网址 | |
| DOI |
10.1093/jmicro/dfaa030
doi
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| 其它 |
期刊：Microscopy 作者：Kazuhiro Kumagai; Akira Kurokawa 出版日期：2020-06-08 |
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