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 氧化硅层厚度对Si/SiO2界面电子态结构与光学性质的影响 相关领域
计算机科学
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期刊：Acta Photonica Sinica 作者：王安琛 WANG Anchen; 黄忠梅 HUANG Zhongmei; 黄伟其 HUANG Weiqi; 张茜 ZHANG Qian; 刘淳 LIU Chun; et al 出版日期：2023-01-01 |
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