标题 |
The interface of a-SiNx:H and Si: Linking the nano-scale structure to passivation quality
a-SiNx:H与Si的界面:纳米结构与钝化质量的关系
相关领域
钝化
高分辨率透射电子显微镜
氮化硅
材料科学
无定形固体
硅
透射电子显微镜
分析化学(期刊)
纳米技术
光电子学
图层(电子)
化学
结晶学
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Solar energy materials & solar cells/Solar energy materials and solar cells 作者:M.W.P.E. Lamers; L. E. Hintzsche; Keith T. Butler; Per Erik Vullum; Chung Fang; et al 出版日期:2014-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|