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Measurement of temperature dependent refractive indices of GaN and 4H-SiC
GaN和4H-SiC温度相关折射率的测量
相关领域
折射率
波长
材料科学
大气温度范围
光学
温度测量
碳化硅
光电子学
物理
热力学
复合材料
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其它 |
期刊: 作者:Jean Wei; Joel M. Murray; Kent L. Averett; Shekhar Guha 出版日期:2021-03-06 |
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