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标题
Muon-Induced Single Event Upsets in Deep-Submicron Technology
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DOI
10.1109/tns.2010.2080689 doi
其它 期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science
作者:Brian D. Sierawski; Marcus H. Mendenhall; Robert A. Reed; Michael A. Clemens; Robert A. Weller; et al
出版日期:2010-12-01
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机长起飞 在 2026-09-14 21:02:44 发布自湖南,悬赏 10 积分
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