Structural and electrical characterization of polycrystalline NbO2 thin film vertical devices grown on TiN-coated SiO2/Si substrates

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标题	Structural and electrical characterization of polycrystalline NbO2 thin film vertical devices grown on TiN-coated SiO2/Si substrates
网址	https://pubs.aip.org/aip/jap/article-pdf/doi/10.1063/1.50388...
DOI	10.1063/1.5038837 doi
其它	期刊：Journal of Applied Physics 作者：Toyanath Joshi; Pavel Borisov; David Lederman 出版日期：2018-09-20
求助人	幽默小鸽子在 2026-07-23 10:43:15 发布自重庆，悬赏 10 积分
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