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 Suppression of Interface Damage in Igzo Tfts Using Al2o3 Protective Layer During N2o Plasma Treatment 相关领域
钝化
材料科学
X射线光电子能谱
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等离子体
磁滞
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铟
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薄膜晶体管
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期刊：Social Science Research Network 作者：Soo‐Yeon Lee; Seungyoon Shin; Jinkyu Lee; Hyun‐Jin Choi; Seong‐In Cho; et al 出版日期：2025-01-01 |
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