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 Heavy ion-induced MCUs in 28 nm SRAM-based FPGAs: upset proportions, classifications, and pattern shapes 相关领域
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期刊：Nuclear Science and Techniques 作者：Shuai Gao; Xinyu Li; Shiwei Zhao; Z. T. He; Bing Ye; et al 出版日期：2022-12-01 |
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