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 SiC/graphene-Based Test Structures for the Kelvin Probe Microscopy Instrumental Function Determination 用于开尔文探针显微镜仪器功能测定的SiC/石墨烯基测试结构
相关领域
开尔文探针力显微镜
石墨烯
显微镜
材料科学
功能（生物学）
光学
原子力显微镜
纳米技术
物理
进化生物学
生物
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| 其它 |
期刊：Technical Physics Letters 作者：M. S. Dunaevskiy; Е. В. Гущина; D. A. Malykh; С. П. Лебедев; A. A. Lebedev 出版日期：2023-12-01 |
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