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Experimental demonstration and mechanism study of single-event gate leakage current in 4H-SiC power MOSFET with top oxide and double P-well structures |
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期刊:Chinese Physics B 作者:Yin 寅 Luo 罗; Keyu 科宇 Liu 刘; Hao 昊 Yuan 袁; Zhiwen 质文 Zhang 张; Chao 超 Han 韩; et al 出版日期:2025-09-01 |
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(2025-6-4)