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Atomic-scale structural characterization of grain boundaries in epitaxial Ge/Si microcrystals by HAADF-STEM |
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期刊:Acta Materialia 作者:Yadira Arroyo Rojas Dasilva; Rolf Erni; Fabio Isa; Giovanni Isella; Hans von Känel; et al 出版日期:2019-04-01 |
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