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Etch profiles in silicon in SF 6 and O 2 plasma based on etch-depth-dependent O/F transport gradient model |
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Shuto Tsuchioka; Tran Trung Nguyen; Kenichi Inoue; Takayoshi Tsutsumi; Thi-Thuy-Nga Nguyen; et al 出版日期:2026-04-23 |
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