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Non-destructive measurement for ultra-thin subsurface damage layer of single-crystal diamond substrates in ultra-precision machining based on ellipsometry assisted by white light interferometry |
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期刊:Measurement 作者:Ziqing Li; Subiao Bian; Han Tong; Jing Lu; Xipeng Xu; et al 出版日期:2026-09-01 |
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(2025-6-4)