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Power-Substrate Static Thermal Characterization Based on a Test Chip 基于测试芯片的功率基板静态热表征
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:X. Jordà; X. Perpiñà; M. Vellvehı́; J. Coleto 出版日期:2008-12-01 |
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