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 A fast and robust convolutional neural network-based defect detection model in product quality control 相关领域
卷积神经网络
水准点（测量）
计算机科学
光学（聚焦）
深度学习
噪音（视频）
人工智能
质量（理念）
产品（数学）
机器学习
模式识别（心理学）
人工神经网络
图像（数学）
物理
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光学
几何学
认识论
数学
地理
大地测量学
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| 其它 |
期刊：The International Journal of Advanced Manufacturing Technology 作者：Tian Wang; Yang Chen; Meina Qiao; Hichem Snoussi 出版日期：2017-08-15 |
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(2025-6-4)
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DW
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