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 Characterization of single-event transients induced by high LET heavy ions in 16 nm bulk FinFET inverter chains 16 nm体FinFET反相器链中高LET重离子诱导的单事件瞬态表征
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Yaqing Chi; Zhenyu Wu; Pengcheng Huang; Qian Sun; Bin Liang; et al 出版日期：2022-01-29 |
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