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 Three‐Dimensional Atomic‐Scale Tomography of Buried Semiconductor Heterointerfaces 埋地半导体异质界面的三维原子尺度层析成像
相关领域
异质结
原子探针
材料科学
原子单位
半导体
电子断层摄影术
纳米
光电子学
表征（材料科学）
表面光洁度
纳米技术
扫描透射电子显微镜
透射电子显微镜
物理
量子力学
复合材料
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期刊：Advanced Materials Interfaces 作者：Sebastian Koelling; Lucas E. A. Stehouwer; Brian Paquelet Wuetz; Giordano Scappucci; Oussama Moutanabbir 出版日期：2022-12-01 |
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