| 标题 |
Local defect and mid-gap state analysis of GaN using monochromated EELS combined with nanodiffraction and atomic-resolution imaging |
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| DOI | |
| 其它 | Yamashita S.; Fukushima S.; Kikkawa J.; Arai R.; Kanitani Y.; Kimoto K.; Kudo Y. |
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(2025-6-4)