| 标题 |
New coater/developer technologies for CD control and defectivity reduction towards 5 nm and smaller nodes 相关领域
极紫外光刻
还原(数学)
薄脆饼
平版印刷术
节点(物理)
过程(计算)
多重图案
进程窗口
光刻
计算机科学
极端紫外线
浸没式光刻
过程控制
抵抗
材料科学
先进过程控制
纳米技术
工程类
光电子学
物理
光学
激光器
几何学
数学
结构工程
图层(电子)
操作系统
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊: 作者:Arnaud Dauendorffer; Yuya Kamei; Shinichiro Kawakami; Makoto Muramatsu; Kathleen Nafus; et al 出版日期:2019-10-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|