Dynamic Defect Localization by Toggling Integrated Circuits States

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标题	Dynamic Defect Localization by Toggling Integrated Circuits States 基于集成电路状态切换的动态缺陷定位相关领域电子线路计算机科学集成电路电子工程工程类电气工程操作系统
网址	https://doi.org/10.1109/ipfa53173.2021.9617232
DOI	10.1109/ipfa53173.2021.9617232 doi
其它	期刊：作者：Ke-Ying Lin; Paul Kenneth Ang; Chun-Wei Ke; Toby Chen 出版日期：2021-09-15
求助人	JevonCheung 在 2025-07-31 15:24:57 发布自广东，悬赏 10 积分
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