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Thermal Stress and Warpage Analysis in Silicon Wafers: Bridging Experimental and Computational Insights for Advanced Semiconductor Packaging 硅片中的热应力和翘曲分析:连接先进半导体封装的实验和计算见解
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期刊:SSRN Electronic Journal 作者:K. Ramalingam; M.Z. Abdullah; Aizat Abas; Kok Hwa Yu; R. Kamarudin; et al 出版日期:2025-01-01 |
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