Prediction of single event effects in SiC MOSFET devices based on deep learning

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标题	Prediction of single event effects in SiC MOSFET devices based on deep learning
网址	https://doi.org/10.1088/1361-6528/ae1a8f
DOI	10.1088/1361-6528/ae1a8f doi
其它	期刊：Nanotechnology 作者：Yixian Guo; Yingqi Chen; Xiaozhi Du; Shuhuan Liu; Qian Wang 出版日期：2025
求助人	新鲜哥在 2026-03-02 11:10:19 发布自乌克兰，悬赏 10 积分
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