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 Comparison of electromagnetic radiation in trench-gate and planar-gate SiC MOSFETs under TID radiation: A comprehensive study 相关领域
材料科学
光电子学
辐射
电磁脉冲
电子工程
电磁辐射
MOSFET
电磁场
碳化硅
辐射硬化
电气工程
光学
场效应晶体管
电磁干扰
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期刊：Microelectronics Journal 作者：Hongxin Zhang; Yunheng Li; Xiong Wei; Lei Shu; Zhi Yu Sun; et al 出版日期：2026-02-01 |
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