Temperature dependence of substrate current and hot carrier-induced degradation at low drain bias

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标题	Temperature dependence of substrate current and hot carrier-induced degradation at low drain bias
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx4/5638/15112/00689247.pdf?...
DOI	10.1109/vlsit.1998.689247 doi
其它	期刊：1998 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers (Cat. No.98CH36216) 作者：P. Aminzadeh; M. Alavi; D. Scharfetter 出版日期：2002-11-27
求助人	hg 在 2026-02-02 18:36:33 发布自广东，悬赏 10 积分
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