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Demonstrating sub-electron noise performance in single electron sensitive readout (SiSeRO) devices 展示单电子敏感读出(SiSeRO)器件的亚电子噪声性能
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期刊: 作者:Tanmoy Chattopadhyay; Sven Herrmann; Peter Orel; Kevan Donlon; S. W. Allen; et al 出版日期:2024-08-27 |
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