| 标题 |
Dependence of reverse leakage on the edge termination process in vertical GaN power device 垂直GaN功率器件中反向泄漏对边缘端接工艺的依赖性
相关领域
材料科学
泄漏(经济)
光电子学
沟槽
MOSFET
晶体管
浅沟隔离
栅氧化层
功率半导体器件
电气工程
电压
纳米技术
工程类
宏观经济学
经济
图层(电子)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Tailang Xie; Cláudia da Silva; Nadine Szabó; Thomas Mikolajick; Andre Wachowiak 出版日期:2022-12-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|